游艇会0005yth

GB/T2423的本部分规定的试验用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未遁电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。

本标准用于确定电工电子产品,主要是指设备在高湿条件下使用和储存的适应性。本试验主要用以观察试验样品在恒定温度。无凝露。经规定时间及高湿环境下的影响。本试验有数种不同温度、湿度和试验持续时间的严酷等级供选择使用。本试验可用于散热型及非散热型试验样品。本试验特别适用于大型设备或试验时可能与试验室外的测试装置有复杂连接的设备。这种连接需要一定的装配时间。在安装期间,可以不用预热或维持特定的试验条件。

GB/T2423的本部分给出了一-种用来模拟主要用于设备型样晶在使用过程中被剧烈搬动或维修时受到撞击、振动.跌落等粗率操作造成冲击效应的试验方法。模拟样品在作为松散约束的货物运输中受到的碰攛效应,需采用试验Ee;弹跳试验方法来评估;同样.模拟样品用于安装设备所受到的冲击效应,需采用试验Ea;冲击来评估。

本试验适用于元器件、设备和其他电工电子产晶(以下简称样品),这些样品在运输或使用期间可能遭受到重复冲击。碰撞试验也可作为确定样品在结构强度方面的满意设计的-种方法,或作为质量控制的手段。碰撞试验基本上在于使样品在碰撞试验机上经受具有规定的峰值加速度和持续时间的标准脉冲的重复冲击。注:术语“碰撞试验机”贯穿于本标准,但并不排除连加碰擅的其他方法。有关规范的编写者将在第11章中得知在规范中所要给出的内容并在附录A中给出必要的指导。

GB/T2423的本部分提供了确定样品经受规定严酷度的非重复或重复冲击能力的标准程序。本试验的日的是用来暴露机械薄弱环节和/或性能下降和冲击引起的累计损伤和退化情况,并且利用这些资料,结合有关规范,来决定样品是否可以接收。在某些情况下,本冲击试验也可以用来确定样品的结构完好性.或作为质量控制的手段(见A.2)。

本部分适用于确定元件、设备或其他产品在高湿度与温度循环变化组合且通常会在试验样品表面产生凝露的条件下使用运输和贮存的适应性。如果本试验用于检验带包装样品在运输和贮存过程中的性能时,应带包装一起进行试验。对于小的质量轻的样品使用本试验，在样品表面产生凝露可能比较困难用户应考虑使用其他替代试验,如GB/T 2423.34- -2005。 ​

GB/T2423的本部分规定了确定元件或设备在高龊度的条件下使用、贮存和运输时适应性的试验方法。本部分的目的是用于确定规定时间内恒定温度、无凝露的高湿环境对试验样品的影响。本部分适用于小型设备或元件,也适用于大型设备,同时适用于散热和非散热试验样品。

GB/T2423的本部分适用于确定电工电子产晶、元件或没备在高湿度的条件下使用、贮存和运输时的适应性。本部分规定了试验的严酷等级。如高温度、高湿度和持续时间等。本部分适用于散热和非散热样品。本部分适用于小型设备及元件,同时也适用于与试验箱外的测试装置有复杂联接的大型设备,这种联接需要. -定的装配时间。在安装期间,可以不用预热或维持特定的试验条件。

GB/T 2423的本部分规定的高温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Bb和试验Bd与早期版本无实质上的差异"。本高温试验的目的仅限于用来确定元件.设备或其他产品在高温环境下使用.运输或贮存的能力本高温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力.在这种情沉下,应采用GB/T 2423. 22。

GB/T2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异",增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用.运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力,在这种情况下,应采用GB/T 2423. 22。

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恒温恒湿试验箱均匀度计算公式：试验箱在稳定状态下，工作空间在某一瞬时各测试点温度之间的差值称为温度均匀度△Tu。对于一般的温湿度试验箱，温度均匀度的量值为1℃~3℃。国标GB/T5170.1规定的计算方法是∶试验箱在稳定状态下，工作空间各测试点在30min内每次测试中实测最高温度与min温度之差的算术平均值，计算公式为